即是IC測試治具的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，頂上是IC芯片，中心是探針，通過準(zhǔn)確定位探針能夠很準(zhǔn)確測觸摸零點(diǎn)幾的焊盤和錫球。
由于IC測試治具適用于功能性測試的，那么有很多特別的功能芯片，就需要不一樣的規(guī)劃，例如大電流，需要規(guī)劃大電流探針或許大電流的觸摸塊；例如，高頻，需要同軸連接器，或許說需要需要做好阻隔；又例如，數(shù)模轉(zhuǎn)換芯片，需要做好數(shù)模地的切割，所以做治具的時(shí)分需要判斷PCB的地切割狀況來規(guī)劃。
測試治具，壓床式的測試治具，一般都會(huì)用到探針，所以在測試治具設(shè)計(jì)時(shí)，探針的挑選非常重要。治試治具的探針，現(xiàn)已做的標(biāo)準(zhǔn)化了，如大小、長度、高度、行程等，都有一系列的數(shù)值參數(shù)。所以我們要做的就像挑選螺絲一樣，只能挑選探針的類型規(guī)格，而不能想當(dāng)然的想要多少就要多少，想要哪類就要哪類。
一般來說，探針的類型，測試治具重要的是探針的直徑大小。探針的大小用mil為單位的，此單位為英制的。單位的換算為100mil=2.54mm＝0.1in。
IC測試治具探頭一般有多種標(biāo)準(zhǔn)。針主要由三部分組成：一部分是針管，主要用銅合金鍍金；另一部分是彈簧，主要用鋼琴絲和彈簧鋼鍍金；第三部分是針，主要用工具鋼（SK）鍍鎳或鍍金。上述三個(gè)部分組裝成探針。
IC測試治具的探針主要在這里同享。此外，不同包裝形式的探頭的標(biāo)準(zhǔn)也不同。為了確保探頭符合要求，有必要對(duì)符合要求的探頭類型進(jìn)行認(rèn)證，確保實(shí)驗(yàn)順利完成。探針是集成電路測試中的一個(gè)重要組成部分，因此，為了確保測試的性能，我們應(yīng)該愈加注重探針的選擇和購買。
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